儀器校驗中環(huán)境溫度的影響

儀器校驗中環(huán)境溫度的影響
儀器校驗熱敏電阻功率計測量功率的原理是基于對溫度敏感的熱敏電阻元件的阻值變化。因此,熱敏電阻座所處的環(huán)境溫度的變化,將導致熱敏電阻元件的阻值變化,使功率計量校驗測量產(chǎn)生誤差。
半導體膜熱電偶式功率座的溫度漂移比熱敏電阻的溫度漂移要小一個數(shù)量級。儀器校準實驗證明,當用手握住熱敏電阻座和半導體薄膜熱電偶座時,一分鐘后,熱敏電阻座的溫度變化帶來的功率零點漂移大約為8 pw,而半導體薄膜熱電偶座的溫度漂移幾乎是熱敏電阻座的十分之一。 熱敏電阻的溫度系數(shù)差,它的溫度漂移較大。因此環(huán)境溫度對其影響大。

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